サービス内容

X線源製造メーカーによる信頼のX線検査

最高分解能0.4umのX線源を搭載した高分解能装置で微細な構造や血管を確認できます。専用のオペレーターによる撮像で高品質の画像データをご提供いたします。

従来のX 線検査装置ではコントラストがつかなかった軽素材に対し、低電圧で高コントラストの撮像が可能です。電子顕微鏡検査の前段階としての検査にも有効です。CD またはDVD に記録した画像データと報告書をご提供します。


高解像度・高品質のX線画像データで製品開発のスピードアップや信頼性の向上にぜひご活用下さい。 

目的に合わせて選べる豊富なラインナップ

CTは軽素材・超微細観察物用のナノフォーカスCT、小型電子部品、材料用の直交型CT、実装基板、システムLSI向けの傾斜CTの3種類あり、目的にあった検査が可能です。通常の透過撮像の他に加熱装置を使用して熱変化を動画で保存することもできます。

数量の多い製品検査にも対応

大型ステージの装置による自動画像保存、マイクロフォーカスタイプではX線ラインカメラにより、短時間に大量の撮像を行うことが出来ます。

撮像適合例

横照射型直交C T

MUX-2021

三方向断面画像
横照射型直交C T
検査対象例樹脂・複合材料
検査可能な大きさの目安0.2~10mm 程度
アプリケーション繊維の配向性
粒子の凝集分散
多孔体の空孔観察
マイクロクラック
微小生物の構造

直交C T ・傾斜C T

MUX-3400 / 3410

三方向断面画像
直交C T
検査対象例小型電子部品
検査可能な大きさの目安1.0~20mm 程度
アプリケーション電子部品の断面検査
ボンディングワイヤの接続不良
コイル部品の構造観察
LED 蛍光体の分散状態
樹脂成型品の内部欠陥
水晶発振器内部構造
傾斜C T
検査対象例実装基板
検査可能な大きさの目安最大 200×200mm
アプリケーション実装部品の剥離
基板配線の断線
ボンディングワイヤの形状確認
スルーホールのメッキ欠陥

透過撮像

MUX-3400

透過撮像
透視撮像
検査対象例ウエハー・樹脂製品
検査可能な大きさの目安最大 300×400mm
アプリケーションバンプ内ボイド観察
実装部品の不良
多孔体の空孔観察
樹脂成型品の欠陥
樹脂シート内異物
電池材料検査

加熱装置

プロファイル作成& 調整
検査対象例実装基板・小型部品
検査可能な大きさの目安最大 300×400mm
アプリケーション最大 40×40×6mm
ハンダの溶融状態
ハンダ内のボイド発生
LED のワイヤー断線
小型部品の熱変形
ゴムの架橋状態

ご利用の流れ

弊社ではお客様よりご提供頂いた情報並びにサンプルを厳重に管理しています。ご安心の上、お気軽にお問い合わせください。

お問い合わせ

X線検査のご相談や資料のご請求は、電話・FAXまたはお問い合わせフォームを用いてインターネットでお問い合わせください。

WEBフォームからのお問い合わせ

お電話でのお問い合わせ

X線開発部・X線営業部

TEL : 042-484-6155

X線営業部(大阪)

TEL : 06-6940-7556

[受付時間] 09:00~18:00(土日祝を除く)

お見積り

ご依頼内容の詳細を確認し、必要に応じてテスト撮像をおこなった上で、撮像方法のご提案と御見積書の提出を行います。

X線検査の実施

サンプルをお預かりしてX線検査を実施する他に、立会検査も承ります。状況によってリードタイムは異なりますが、最大2週間程度です。

撮像データのご提供

撮像した画像データはCDまたはDVDでご提供します。立ち合い検査の場合は通常は当日お渡しし、預かり撮像の場合はサンプルと一緒に宅配便でお送りします。

報告書のご提出

撮像条件や撮像結果を記載した報告書を作成してご提出します。

お支払い

検査完了後に通常は報告書と一緒に請求書を送付させていただきます。ご依頼時に支払い条件を相談させていただきますが、原則として翌月末に銀行振り込みでお願いいたします。

関連技術情報

産業用X線CT撮像の種類

  直交CT 直交CT(横照射型) 傾斜CT   仕組み 検出器は0℃の状態で、X線の照射方向に対し試料を直交した状態で回転させる 検出器を斜め方向で固定し、ステージと試料を水平方向に回転させる メリット ・情報量が多く、鮮明な画像取得が可能 ・分解能が高い ・情報量が多く鮮明な画像取得が可能で分解能が高い ・試料の自重による影響を受けにくい ・高い回転精度での画像取得が可能 ・大きい試料でもCT撮像が可能 ・ステージに試料を置くだけでCT撮像が可能 デメ

X線の拡大倍率と分解能(解像度)

X線焦点と分解能 フィラメント(陰極)から出た電子線が、ターゲット(陽極)に衝突し、X線が発生する箇所をX線焦点と言います。X線はX線焦点より一定の角度で放射状に照射されます。試料を拡大観察をする場合、X線の照射口であるX線焦点にX線は右図のように試料の輪郭をあらゆる方向から投影する事になるので輪郭がぼけます。X線焦点が小さければ、X線の照射される方向が限定されるので輪郭がはっきりしたシャープな画像を得ることが出来ます。 マーストーケンソリューションの分解能(解像度)の定義