トップ > ニュース > 展示会情報 > 第33回エレクトロテストジャパン出展報告

ニュース
展示会情報

第33回エレクトロテストジャパン出展報告

株式会社マーストーケンソリューションは、2016年1月13日(水)~1月15日(金)までの3日間 東京ビッグサイトにて開催された『第33回エレクトロテストジャパン』に出展いたしました。
当展示会は、日本最大のエレクトロニクス検査・試験・測定分析展で、大変注目を集めております。

多数のご来場をいただき、誠にありがとうございました。当社ブースの画像を交えてご報告いたします。

展示会概要

名称:>>第33回エレクトロテスト ジャパン ~エレクトロニクス検査・試験・測定・分析技術展~
期間:2016年1月13日(水)~15日(金)10:00~18:00(15日のみ17:00終了)
場所:東京ビッグサイト 東2ホール
当社ブース番号:E14-10

同時開催:
東展示棟
第45回 インターネプコン ジャパン /第 2回 ウェアラブル EXPO/第17回 半導体パッケージング技術展/第17回 プリント配線板 EXPO/第17回 電子部品・材料 EXPO/第 6回 微細加工 EXPO/第 8回 ライトテック EXPO/第 6回 国際照明器具 EXPO

西展示棟
第 8回 カーエレクトロニクス技術展/第 4回 コネクティッド・カー EXPO/第 7回 EV・HEV駆動システム技術展/第 2回 自動車部品加工 EXPO/第 6回 クルマの軽量化技術展

出展内容

当社ブースでは、2016年リリース予定のナノフォーカスX線顕微検査装置をはじめ、JIMA製チャートで0.4µmの分解能を保証している自社開発ナノフォーカスX線源や数多くの業界で納入実績のあるX線自動検査装置の事例を展示致しました。 マーストーケンソリューション自動認識事業の2次元バーコードスキャナやRFIDリーダライタの事例展示も行いました。

X線検査に関する詳細な情報はこちらをご覧ください>>X線検査事業紹介サイトへ

当社出展ブース

 画像をクリックすると拡大されます。

ニュース

プレスリリース

メディア掲載記事

展示会情報

2019年

2018年

2017年

2016年

2015年

2014年

2013年

2012年

2011年

お知らせ