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第32回エレクトロテスト ジャパン~エレクトロニクス検査・試験・測定・分析技術展~出展報告

2015年1月14日(水)~1月16日(金)までの3日間 東京ビッグサイトにて開催されました『第32回エレクトロテストジャパン』の企業ブースに、当社子会社のマース東研X線検査株式会社が出展いたしました。多数のご来場をいただき、誠にありがとうございました。当社ブースの画像を交えてご報告さしあげます。

展示会概要

名称:第32回エレクトロテスト ジャパン ~エレクトロニクス検査・試験・測定・分析技術展~
>>第32回エレクトロテストジャパン 公式サイト
会期:2015年1月14日(水)~16日(金)10:00~18:00(16日のみ17:00終了)
会場:東京ビッグサイト 東3ホール
当社ブース番号:26-38 
併設展:第44回 インターネプコン ジャパン/第16回 半導体パッケージング技術展
/第16回 電子部品・材料 EXPO/第16回 プリント配線板 EXPO/第 5回 微細加工 EXPO

出展内容

JIMA製マイクロチャートにて0.4umの分解能の保証をしている、自社開発X線源を搭載した汎用ナノフォーカスX線検査装置TUX-3200Nの実機展示をはじめ、世界最高峰の空間分解能150nmを実現した、新機能材料・生物試料用ナノフォーカスX線CT装置TOHKEN-SKYSCAN2011の事例をご紹介しました。
また、新方式のラインセンサーにより、搬送しながら検査をおこない、タクトを大幅に向上させたX線自動検査機の事例も展示いたしました。
今年は、当社(株式会社マーストーケンソリューション)の現場改善ソリューションも動画展示しました。

汎用ナノフォーカスX線検査装置「TUX-3200N」


特長
●焦点サイズ0.25umの自社開発開放管X線源を搭載。
●Φ400mmのステージを搭載し、300mmウェハーや大型基板の検査可能。
●マッピング機能・ステップ送り機能など、検査時間を短縮する多くの機能を搭載。
>>製品紹介ページへ

新機能材料・生物試料用 ナノフォーカスX線CT専用検査装置 「TOHKEN-SkyScan2011」


特長
「150ナノの空間分解能X線ナノCT装置」
X線検査装置 TOHKEN-SkyScan2011は、世界最高のX線源とCTテクノロジーが融合した世界初のX線CT装置です。完全自社開発の超微小焦点X線源を搭載、空間分解能は世界最高の150ナノメートル。カーボン素材や多孔材料などの構造解析を可能にしました。
>>製品紹介ページへ

当社出展ブース

出展ブースイメージ

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