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第31回エレクトロテスト ジャパン~エレクトロニクス検査・試験・測定・分析技術展~出展報告

平成26年1月15日(水)-17日(金)までの3日間 東京ビッグサイトにて開催されます『エレクトロテストジャパン2014』の企業ブースに、当社子会社のマース東研X線検査株式会社が出展いたしました。
多数のご来場を頂き誠にありがとうございました。出展ブースの画像を交えてご報告いたします。

展示会概要

名称:第31回エレクトロテスト ジャパン~エレクトロニクス検査・試験・測定・分析技術展~
>>第31回エレクトロテスト ジャパンオフィシャルサイト
期間:平成26年1月15日(水)~17日(金)10:00~18:00(最終日は17:00終了)
場所:東京ビッグサイト 東3ホール
当社ブース:27-28

出展内容

焦点サイズ0.25umの自社開発X線源を搭載した、汎用ナノフォーカスX線検査装置TUX-3200Nの実機展示をはじめ、世界最高峰の空間分解能150nmを実現した、新機能材料・生物試料用ナノフォーカスX線CT装置TOHKEN-SKYSCAN2011の事例をご紹介しております。
また、最新のラインセンサの搭載により、タクトタイムを大幅に向上させ、ワークを停止することなくX線検査を可能にした『マイクロフォーカスX線自動検査機』などX線検査装置の事例も多数展示しております。

汎用ナノフォーカスX線検査装置「TUX-3200N」


特長
●焦点サイズ0.25umの自社開発開放管X線源を搭載。
●Φ400mmのステージを搭載し、300mmウェハーや大型基板の検査可能。
●マッピング機能・ステップ送り機能など、検査時間を短縮する多くの機能を搭載。
>>製品紹介ページへ

当社出展ブース

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